2D MEMS 垂直针
• 间距:≥50um
• 电流承载能力:<1500mA
• 高针数量:≤40,000针
• 寿命:TD 500K ~1000K
• 开尔文测试可选
• 针压: ≥ 0.7 gf/mil
• 最大行程: 6 mils
• 测试温度范围: -55℃ ~ 175℃
测试探针
测试座
半导体连接器
精微结构件
嵌件成型件
精微注塑件
探针卡
测试套件
测试治具
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